← Openbare aanbestedingen – Netherlands
Inschrijvingen tot 7 sep 2026 Netherlands

Metrology SEM+FIB system

Aanbestedende dienst
Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO · Reg.nr. 252056395
Sector
CPV 31712000
Geraamde waarde
€ 1.300.000
Gepubliceerd
27 jul 2026
Uiterste datum
7 sep 2026

Omschrijving

The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem

Documenten (5)

  • TN604044 - EF16 Aankondiging van een opdracht - algemene richtlijn, standaardregeling 20260727143716bin
  • Public Tender Metrology SEM+FIBbin
  • Part Cbin
  • Part Bbin
  • Part Abin

Documenten downloaden kan na gratis registratie — 7 dagen proberen, zonder kaart.

Documenten ophalen

Bekijk op het bronportaal ↗

Mis geen aanbesteding meer

Veritra doorzoekt dagelijks alle aanbestedingsportalen en stuurt u nieuwe aanbestedingen voor uw sector en regio — per e-mail, mobiel of direct in uw systeem. Eerste 7 dagen gratis.

Gratis proberen

Vergelijkbare actieve aanbestedingen