← Verejné obstarávanie – Holandsko
Príjem ponúk do 7. 9. 2026 Holandsko

Metrology SEM+FIB system

Obstarávateľ
Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO · IČO 252056395
Odbor
CPV 31712000
Predpokladaná hodnota
1 300 000 €
Zverejnené
27. 7. 2026
Termín ponúk
7. 9. 2026

Opis zákazky

The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem

Dokumentácia (5)

  • TN604044 - EF16 Aankondiging van een opdracht - algemene richtlijn, standaardregeling 20260727143716bin
  • Public Tender Metrology SEM+FIBbin
  • Part Cbin
  • Part Bbin
  • Part Abin

Stiahnutie dokumentov je po bezplatnej registrácii — trial na 7 dní, bez platobnej karty.

Získať dokumenty

Zobraziť na zdrojovom portáli ↗

Nenechajte si ujsť ďalšie zákazky

Veritra denne prejde všetky portály verejného obstarávania a pošle vám nové zákazky pre váš odbor a región — e-mailom, do mobilu alebo rovno do vášho systému. Prvých 7 dní zadarmo.

Vyskúšať zadarmo

Podobné aktívne zákazky